• 广泛的测量范围 - 四点探头能够提供10 nA-100 mA的电流，并且可以测量低至100μV-10 V的电压。广泛的薄层电阻测量范围，从10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多种材料。
• 非破坏性测试 - 设计时考虑到了精密样品的测量，四点探头采用镀金弹簧接触圆头， 60克的恒定接触力，防止探针刺破脆弱的薄膜，同时仍能提供良好的电接触。
• 节省空间的设计 - 通过垂直堆叠组件，我们能够将四点探头的占地面积降至zui低（总台面面积12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏货架空间的实验室中使用。
• 易于使用 - 只需插入系统，安装软件，即可开始使用！ 直观的界面和清洁的设计，简化了薄膜电阻的测量。
• 快速材料表征 - PC软件可执行薄膜电阻，电阻率和电导率所有必要的测量和计算，从而使材料表征变得毫不费力。
• 要忘记保存您的实验数据 - 用于测量的设置会与数据一起保存，从而轻松查看实验的详细信息。 此外，这些设置文件可以通过相同的软件加载，加快重复测量和材料表征。 用更少的时间重复测量，您的研究成果可以显着增加。
技术参数：
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当前范围
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10 nA到100 mA
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薄层电阻范围
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10mΩ/□至10MΩ/□
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测量精度
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< ±4%
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测量精度
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±0.5%
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探针间距
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1.27毫米
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矩形样本大小范围
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长边zui小值：4毫米
短边zui大值：60毫米
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圆形样品尺寸范围（直径）
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4毫米到76.2毫米
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zui大样品厚度
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5毫米
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总体尺寸
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宽度：120毫米
高度：100毫米
深度：300毫米
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支持的操作系统
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Windows Vista,7,8和10（64位）
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zui小显示器分辨率
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1440 x 900
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建议的监视器分辨
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1920 x 1080
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所需的硬盘空间
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400 MB
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